Kods | ĶST719 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Nosaukums | Silikātu materiālu eksperimentālās pētīšanas metodes | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Statuss | Obligātais/Ierobežotās izvēles; Brīvās izvēles | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Līmenis un tips | Pamatstudiju, Akadēmiskais | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Tematiskā joma | Ķīmija un ķīmijas tehnoloģija | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Struktūrvienība | Dabaszinātņu un tehnoloģiju fakultāte | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Mācībspēks | Gundars Mežinskis, Līga Orlova | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Kredītpunkti | 3.0 (4.5 ECTS) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Daļas | 1 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Anotācija |
Šajā kursā uzmanība tiek pievērsta sekojošām tēmām: rentgenstaru difraktometriskā analīze. Diferenciāli termiskā un termo mehāniskā analīze. Optiskā un skenējošā elektronu mikroskopija un EDS. Atomu spēka mikroskopija. Daļiņu izmēru analīzes metodes - sietu analīzes un fotonu korelācijas spektroskopijas metodes. Infrasarkanā un UV-Vis spektroskopija.. |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Studiju kursa saturs |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Mērķis un uzdevumi, izteikti kompetencēs un prasmēs |
Priekšmeta mērķis - iepazīstināt ar plašāk izmantojamajām un jaunajām silikātu materiālu fizikālajām pētīšanas metodēm, izmantojamām iekārtām. Priekšmeta apguves rezultātā students pratīs izvēlēties nepieciešamās konkrētā silikātu materiāla pētīšanas metodes, gūs priekšstatu par iekārtu kalibrāciju, iekārtu izmantošanas ierobežojumiem, paraugu sagatavošanu, rezultātu interpretāciju. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Sasniedzamie studiju rezultāti un to vērtēšana |
Students orientējas plašāk izmantojamās silikātu materiālu fizikālajās pētīšanas metodēs, izmantojamās iekārtās un paraugu sagatavošanas metodēs kā arī konkrēto metožu izmantošanas ierobežojošos faktoros. - Sekmīgi (75% apjomā atbildēti jautājumi)
nokārtoti 3 testi par lekciju laikā nolasīto
materiālu. Rakstiskais eksāmens semestra
beigās. Iegūtas prasmes interpretēt silikātu materiālu rentgenstaru difraktometriskās, skenējošas elektronu mikroskopijas, atomspēka mikroskopijas, infrasarkanās spektroskopijas, sietu analīzes rezultātus. - Ieskatīti 4 laboratorijas darbi. |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Priekšzināšanas | ĶVĶ113 Vispārīgā ķīmija (padziļināts kurss). | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Studiju kursa plānojums |
|