ĶST700 Nanomēroga objektu pētīšanas metodes

Kods ĶST700
Nosaukums Nanomēroga objektu pētīšanas metodes
Statuss Obligātais/Ierobežotās izvēles
Līmenis un tips Augstākā līmeņa, Akadēmiskais
Tematiskā joma Materiālzinātnes
Struktūrvienība Dabaszinātņu un tehnoloģiju fakultāte
Mācībspēks Gundars Mežinskis
Kredītpunkti 5.0 (7.5 ECTS)
Daļas 2
Anotācija Mācību priekšmeta realizācijas laikā tiks sniegtas ziņas par nanomēroga objektu pētīšanas metodēm, to iekārtām un iegūto rezultātu interpretāciju. Detalizēti tiks apskatītas rentgenstaru un neitronu difrakcijas, transmisijas un skenējošās elektronu mikroskopijas metodes. Lekciju un laboratorijas darbu laikā studenti padziļinātie iepazīsie ar Skenējošās tuneļmikroskopijas, atomspēka mikroskopijas un optiskās spektroskopijas metodēm nanoobjektiem. Tiks sniegtas ziņas par absorbcijas un fotoluminiscencea spektroskopiskijām, magnetometriju, Mosbauera spektroskopiju, termisko analīzi un elektroķīmisko metožu principiem..
Studiju kursa saturs
Saturs Pilna un nepilna laika klātienes studijas Nepilna laika neklātienes studijas
Kontaktstundas Patstāvīgais darbs Kontaktstundas Patstāvīgais darbs
Rentgenstaru un neitronu difrakcija. Neitronu izkliede. Ritvielda analīze. 4 0 0 0
Neelastiskā neitronu izkliede. Mazo leņķu izkliede. 2 0 0 0
Transmisijas elektronu mikroskopija (TEM).: Atomu izšķiršanas līmeņa režģa attēlu veidošana kristāliskiem paraugiem. 2 0 0 0
TEM: aspektu formas nanokristāliem. 2 0 0 0
Elektronu hologrāfija.Lorentza mikroskopija. 2 0 0 0
„In situ” TEM un nanomērījumi. Termodinamiskās nanokristālu īpašības. 2 0 0 0
Nanomērījumi elektriskajam transportam un mehāniskjām īpašībām. 2 0 0 0
Nanomērījumi mehāniskajām īpašībām nanošķiedrām. 2 0 0 0
Nanodaļiņu elektronu enerģijas zudumu spektroskopija. Filtrētās enerģijas elektronu attēlošana 2 0 0 0
Skenējošās elektronu mikroskopijas (SEM) pamatprincipi. Elektronu optika. 2 0 0 0
SEM iegūstamais minimālais kūļa diametrs. Kontrasta veidošanās un tā interpretācija 2 0 0 0
SEM Everharta-Tornleja detektors. Sekundāro elektronu detektors. Citi detektori. 2 0 0 0
Skenējošā tuneļmikroskopija (STM). STM pētījumi metāliem un pusvadītāju virsmām. 2 0 0 0
STM pētījumi organiskām molekulām 2 0 0 0
Atoma spēka mikroskopijas (AFM) izmantošana spēku spektra analīzei. Spēka sensors 2 0 0 0
Laterālo spēku mikroskopija. Spēka mikroskopa darbība bez-konkta modā. 2 0 0 0
Spēka mikroskopijas darbs punktēšanas modā. Magnētisko spēku mikroskopija. 2 0 0 0
Ballistisko elektronu emisijas spektroskopija 2 0 0 0
STM izmantošana virsmas un robežvirsmas modificēšanai 2 0 0 0
Virsmas nanoveidošana, izmantojot STM atsevišķa atoma manipulēšanu 2 0 0 0
Nanoklāsteru un nanokristālu optiskā spektroskopija 2 0 0 0
Kvantu punktu pierādījumi absorbcijas un fotoluminescences spektros 2 0 0 0
Ramaņa un Furjē transformācijas infrasarkano spektru pētījumi kvantu punktiem 2 0 0 0
Augstas izšķirtspējas spektroskopija individuāliem kvantu punktiem 2 0 0 0
Nanostruktūru kontrole, izmantojot spektroskopisko kontroli 2 0 0 0
Metālu kvantu punkti II-IV pusvadītājiem un heterogēnām nanostruktūrām 2 0 0 0
Fotosprieguma spektroskopija virsmām un robežvirsmām 2 0 0 0
Magnētisko īpašību raksturošana ar magnetometriju 2 0 0 0
Mosbauera spektroskopija . Pulveru neitronu difrakcija 2 0 0 0
Elektroķīmisko metožu raksturojums. Nanostrukturētu elektrodu izmantošana 2 0 0 0
Termiskā analīze. Datu interpretācija. 2 0 0 0
Laboratorijas darbi 16 0 0 0
Kopā: 80 0 0 0
Mērķis un uzdevumi, izteikti
kompetencēs un prasmēs 		Orientēties nanomateriālu struktūras un nanoobjektu īpašību pētīšanass metožu principos un iekārtās, iegūto datu interpretācijā. Prast pamatot, kādas pētīšanas metodes jāizmanto konkrētā nanoobjekta mērījumiem.
Sasniedzamie studiju
rezultāti un to vērtēšana 		Students iegūs zināšanas par nanomēroga objektu pētīšanas metodēm. - Iegūtas zināšanas un iemaņas tiks vērtētas rakstiskā eksāmena laikā, kurā studentam jāparāda prasme orientēties nanomateriālu struktūras un nanoobjektu īpašību pētīšanas metožu principos un iekārtās.
Laboratorijas darbu laikā studenti iegūs praktiskā dara pieredzi pētīšanas metožu izmantošanā. - Iegūtās zināšanas un iemaņas tiks novērtētas ar ieskaiti, kurā studentam jāparāda prasme izvēlēties optimālās pētīšanas metodes, paraugu sagatavošanu pētījumiem, datu interpretāciju.
Priekšzināšanas Vispārējā fizika un ķīmija.
Studiju kursa plānojums
Daļa KP EKPS Stundas Pārbaudījumi
Lekcijas Prakt. d. Lab. Ieskaite Eksāmens Darbs
1 2.0 3.0 2.0 0.0 0.0 *
2 3.0 4.5 2.0 0.0 1.0 *
Pieteikties uz šo kursu
[Kursa apraksts PDF formātā]