| Kods | DE1124 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Nosaukums | Fotonikas integrēto shēmu testēšana | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Statuss | Obligātais/Ierobežotās izvēles | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Līmenis un tips | Pamatstudiju, Akadēmiskais | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Tematiskā joma | Elektronika un telekomunikācijas | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Struktūrvienība | Datorzinātnes, informācijas tehnoloģijas un enerģētikas fakultāte | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Mācībspēks | Mareks Parfjonovs, Darja Čirjuļina, Armands Ostrovskis, Lilita Ģēģere, Vjačeslavs Bobrovs | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Kredītpunkti | 4.0 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Daļas | 1 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Anotācija |
Studiju kurss sniedz visaptverošu ievadu fotonikas integrēto shēmu (PIC) testēšanā un raksturošanā, aptverot gan pamatprincipus, gan praktiskās mērījumu metodes. Studenti iegūs izpratni par galveno mēraparatūru, optiskajām un elektriskajām mērījumu sistēmām, un apgūs O/O, E/E un E/O parametru mērījumus. Studiju kursā tiek uzsvērtas gan maza-signāla, gan liela-signāla mērījumu metodes, kas ļauj noteikt un izprast būtiskākos ierīču darbības parametrus. Tāpat tiek aplūkotas atšķirības starp PIC izstrādes posma testēšanu un ražošanas līmeņa atbilstības testēšanu, ietverot arī lielapjoma pusvadītāju-plākšņu mērījumus. Studiju kursa noslēgumā studenti spēs patstāvīgi definēt PIC testēšanas procedūras, veikt un analizēt iegūtos datus.. |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Studiju kursa saturs |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Mērķis un uzdevumi, izteikti kompetencēs un prasmēs |
Studiju kursa mērķis ir attīstīt studentu kompetenci fotonikas integrēto shēmu (PIC) mērījumu veikšanā, datu analīzē un testēšanas procedūru izstrādē, sagatavojot praktiskam darbam laboratorijā un inženiertehnisko uzdevumu veikšanai industriālajās vidēs. Studiju kursa uzdevumi: - sniegt zināšanas par galvenajām fotonikas testēšanas mēraparatūrām un PIC ierīču mērījumu metodiku; - attīstīt prasmes veikt uzticamus mērījumus ar PIC ierīcēm; - iemācīt izvēlēties un pielietot atbilstošas testēšanas metodes (O/O, E/E, E/O) atbilstoši mērījumu mērķiem un PIC ierīču īpašībām; - attīstīt prasmes analizēt iegūtos mērījumu rezultātus un noteikt būtiskos fotonikas komponentu darbības parametrus; - iemācīt atšķirt PIC izstrādes līmeņa un ražošanas līmeņa testēšanas metodes, tostarp pamatzināšanas par pusvadītāju-plākšņu līmeņa mērījumiem; - iemācīt patstāvīgi definēt testēšanas prasības un izstrādāt piemērotas mērījumu shēmas PIC raksturošanai. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Sasniedzamie studiju rezultāti un to vērtēšana |
Spēj izprast un orientēties fotonikas integrēto shēmu (PIC) testēšanas veidos, izvēloties atbilstošas mērījumu metodes atkarībā no nepieciešamajiem datiem (piemēram, optiskā, elektriskā vai elektrooptiskā raksturošana). - Vērtēšanas metodes: kontroldarbs, eksāmens.
Kritēriji: vērtē atbilstoši studenta spējai izprast un izskaidrot PIC testēšanas veidus. Spēj atšķirt testēšanas metodes, kas tiek izmantotas izstrādes un ražošanas posmos, un izskaidrot, kā PIC dizaina optimizācijas testi atšķiras no standartizētas atbilstības un kvalitātes kontroles testēšanas industriālajā vidē. - Vērtēšanas metodes: kontroldarbs, eksāmens. Kritēriji: vērtē atbilstoši studenta spējai atšķirt testēšanas metodes un izskaidrot atšķirības kvalitātes kontroles testēšanas industriālajā vidē. Spēj veikt praktiskus mērījumus ar fotonikas integrētajām shēmām, izmantojot atbilstošu laboratorijas aprīkojumu (piemēram, lāzerus, modulatorus, vektoru tīkla analizatorus un optiskās mērījumu sistēmas), kā arī analizēt iegūtos datus, nosakot būtiskos darbības parametrus. - Vērtēšanas metodes: laboratorijas un praktiskie darbi. Kritēriji: vērtē atbilstoši studenta spējai veikt mērījumus laboratorijā, analizēt iegūtos rezultātus un izskaidrot darbības parametrus. Spēj patstāvīgi definēt un izstrādāt PIC komponentu testēšanas procedūras, tostarp noteikt mērījumu shēmas, izvēlēties piemērotu aprīkojumu un identificēt galvenos raksturlielumus, kas nepieciešami ierīces funkcionalitātes un veiktspējas novērtēšanai. - Vērtēšanas metodes: laboratorijas un praktiskie darbi Kritēriji: vērtē atbilstoši studenta spējai izstrādāt PIC komponentu testēšanas procedūru, veikt mērījumus, nolasīt un izvērtēt iegūtos rezultātus. |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Studiju rezultātu vērtēšanas kritēriji |
Kontroldarbi - 30%
Laboratorijas un praktiskie darbi - 30% Eksāmens - 40% |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Priekšzināšanas | Elektrisko ķēžu pamati (pretestība, kapacitāte, induktivitāte), impedance un maiņstrāvas ķēžu analīze, signālu pamatjēdzieni (frekvence, joslas platums), elektronikas pamati, fotonikas pamati. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Studiju kursa plānojums |
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||